本系統(tǒng)專為科研用戶設(shè)計(jì)，系統(tǒng)擴(kuò)展性好，可以這對(duì)不同客戶性能需求更改系統(tǒng)配置，主要用途：測(cè)試納米顆粒散射光譜，通過(guò)散射光譜測(cè)試判斷顆粒大小和形狀。
可測(cè)試顆粒最小可達(dá)幾十納米，目前主要用戶有：南京大學(xué)，華東理工大學(xué)，中國(guó)科學(xué)院應(yīng)用物理研究所，南京郵件大學(xué)等等。
采用nikon或olympus科研級(jí)熒光倒置顯微鏡，配合PI公司科研級(jí)光譜儀和CCD，采用光譜CCD取微區(qū)，可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)顆粒。
系統(tǒng)性能：
1、顯微鏡配 10x，40x，60x物鏡
2、光譜分辨率：0.05nm
3、波長(zhǎng)范圍：a、單顆粒光譜測(cè)試范圍：200-1100nm，整體測(cè)試波長(zhǎng)范圍：200nm-12um
3、選配電動(dòng)位移臺(tái)
成果展示：
